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透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。
| 實(shí)驗(yàn)名稱 | 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 | 服務(wù)周期 | 提交結(jié)果 | 服務(wù)報(bào)價(jià) |
| 透射/掃描電鏡檢測 | 電鏡觀察樣本微結(jié)構(gòu) | 4周 | 觀察圖片 | 800元/樣 |
服務(wù)報(bào)價(jià)： 800元/樣
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容： 電鏡觀察樣本微結(jié)構(gòu)
服務(wù)期限： 4周
提交結(jié)果： 觀察圖片
客戶提供材料： 固定樣本、觀察部位
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